一种确定共因失效系数的方法-β系数模型法

图1 各个通道失效与共因失效的关系

根据《电气∕电子∕可编程电子安全相关系统的功能安全》（GB/T 20438-2017），本文介绍了一种确定共因失效系数的方法——β系数模型。

表1列出了各种措施并包含了基于工程判断的相关X和Y值，其中下标LS代表逻辑子系统；SF下标代表传感器或最终元件。

表2列出了可编程电子相关Z值：

表2 可编程电子Z值评分表

表3列出了传感器或最终元件相关Z值：

表3 传感器或最终元件Z值评分表

针对每一个逻辑子系统、传感器或最终元件，将表1中每一项的X_LS（X_SF）值和Y_LS（Y_SF）值求和，得到其X和Y值；再根据表2或表3，确定其Z值。最后，再根据下式计算S和S_D值：

根据S和S_D值，结合表4，可以得到逻辑子系统、传感器或最终元件的共因失效系数（β：不可能检测到的危险故障的共因失效系数；β_D：可检测到的危险故障的共因失效系数）

表4 逻辑子系统、传感器或最终元件的共因失效系数（1oo2系统）

上表中的β_int（β_Dint）是与1oo2系统的共因失效相关的。对于其他表决系统，根据下表调整最后的β值：